Analizy standardowe - Sekcja Mikroskopii Elektronowej

Idź do spisu treści

Menu główne:

Analizy standardowe

 
Analizy standardowe

Przedstawiony tutaj opis analiz dotyczy standardowych badań wykonywanych w Sekcji Mikroskopii Elektronowej Laboratorium Analitycznego Wydziału Chemii UMCS.
Bardziej szczegółowe informacje dotyczące oferowanych badań i analiz, a także możliwości aparatury będącej na wyposażeniu naszej sekcji można znaleźć w dziale Profil badawczy a także w dziale Aparatura.

 

 

 

 
 
Preparatyka - analizy standardowe

Aparat

Analiza/pomiar/etap

Ścieniacz jonowy EM RES 101, Leica

  • przygotowanie preparatów do badań metodami transmisyjnej i skaningowej mikroskopii elektronowej

Oczyszczarka plazmowa, (Plasma Cleaner)

  • czyszczenie preparatów do badań metodami transmisyjnej i skaningowej mikroskopii elektronowej

Ultramikrotom z przystawką mrożeniową
EM UC7/FC7, Leica

  • krojenie preparatów mikroskopowych

  • utrwalanie, zatapianie w żywicy preparatu do badań metodami transmisyjnej mikroskopii elektronowej

Napylarka próżniowa HV EM SCD500, Leica

  • napylanie warstw przewodzących (Au, Ag, grafit) na próbkach przeznaczonych do badań metodami skaningowej mikroskopii elektronowej

Napylarka próżniowa Polaron SC 7640/CA7625, Quorum Techn.

  • napylanie warstw przewodzących (Au/Pd, grafit) na próbkach przeznaczonych do badań metodami skaningowej mikroskopii elektronowej

Szlifierko-polerka jednotalerzowa TegraPol-11, Struers

  • zatopienie próbki w żywicy epoksydowej, wykonanie zgładu

Suszarka w punkcie krytycznym CPD 030, Bal-Tec

  • suszenie w punkcie krytycznym preparatów do badań metodami mikroskopii: optycznej, sił atomowych, skaningowej i transmisyjnej

  • utrwalanie i odwadnianie preparatów do badań metodami skaningowej mikroskopii elektronowej

Mikroskop skaningowy Quanta DualBeam 3D FEG, Fei

  • przygotowanie techniką FIB (wycinanie wiązką jonową) lamelli z preparatu do badań metodami transmisyjnej mikroskopii elektronowej

 

 
 
Mikroskopia optyczna - analizy standardowe

Aparat

Analiza/pomiar/etap

Optyczny mikroskop badawczy Eclipse 1500, Nikon

  • obrazowanie w trybie epi/dia/kontrast fazowy

  • cyfrowy zapis obrazu - kolorowa kamera CCD

Mikroskop stereoskopowy Nikon

  • obrazowanie w trybie epi/dia/wysokiego kontrastu OCC

  • cyfrowy zapis obrazu - kolorowa kamera CCD

 

 
 
Mikroskopia elektronowa - analizy standardowe

Aparat

Analiza/pomiar/etap

Skaningowy mikroskop  elektronowy Phenom, Fei

  • obrazowanie w trybie wysokiej próżni

  • powiększenia do 20 000 razy

Skaningowy mikroskop  elektronowy Quanta  3D, FEG, Fei

  • obrazowanie w trzech trybach: wysokiej próżni, niskiej próżni i w trybie środowiskowym

  • mikroanaliza pierwiastkowa EDS, EBDS

Transmisyjny mikroskop elektronowy Tecnai G20 X-TWIN, Fei

  • obrazowanie w trybie TEM i STEM (w ciemnym i jasnym polu)

  • mikroanaliza pierwiastkowa EDS
  • obrazy dyfrakcyjne

Transmisyjny mikroskop elektronowy
Titan3G2-Cubed, Fei

 

[Opracowanie E. Mendyk]

 
 

Aktualizacja 2014-01-20

Poprawny CSS!

Wróć do spisu treści | Wróć do menu głównego