Napylarka Leica - Sekcja Mikroskopii Elektronowej

Idź do spisu treści

Menu główne:

Napylarka Leica

EM SCD005
 
Napylarka EM SCD005

Napylarka EM SCD005 firmy Leica jest wykorzystywana do nanoszenia cienkich warstw (filmów) zarówno metalicznych, jak i węglowych na preparaty przygotowywane do badań metodami głównie skaningowej mikroskopii elektronowej.
Powierzchnia próbki badana przy użyciu skaningowego mikroskopu elektronowego powinna być przewodząca.  Pozwala to na uzyskanie lepszej emisji elektronów wtórnych z próbki, co jest bardzo istotne na etapie tworzenia obrazu SEM.  Próbki, które pierwotnie nie są przewodzące, muszą być napylone odpowiednią przewodzącą warstwą.
Napylanie próbki cienką warstwą metalu poprawia jakość obrazów uzyskiwanych w skaningowej mikroskopii elektronowej - poprzez polepszenie kontrastu i jest istotne - zwłaszcza dla próbek nieprzewodzących - minimalizuje tak zwany efekt ładowania próbki.


 

 

 

 
 
Podstawowe parametry aparatu

Układ napylający

napięcie głowicy napylającej 1 kV, prąd stały z użyciem powietrza lub gazu szlachetnego (argonu)

  • napylanie węglem: z prętów grafitowych oraz przy pomocy głowicy przystosowanej do rozpylania z włókien węglowych, powłoki węglowe najwyższej jakości i najmniejszym ziarnie

  • zimne napylanie metalami szlachetnymi wspomagane polem magnetycznym, możliwość pokrycia próbki warstwą Pt, W, Au, Au/Pd

  • termiczne naparowywanie metali, węgla i mieszaniny węgiel/metal, możliwość pokrycia warstwą Mo, Pt, W oraz ich mieszaninami z węglem

Układ próżniowy

  • zintegrowana pompa turbomolekularna o wydajności 68 l/s

  • memranowa pompa próżniowa o wydajności 13 l/s

  • komora próżniowa o średnicy 84 mm

Możliwości dodatkowe

  • programowanie czasu napylania i grubości napylonej warstwy

  • pomiar grubości napylonej warstwy

  • powierzchniowe oczyszczanie preparatów plazmą argonową

 

 
 
Możliwości i zastosowania

Napylarka EM SCD005 firmy Leica gwarantuje

  • uzyskanie na powierzchni próbki do obrazowania SEM cienkich przewodzących filmów metalicznych (w zależności od użytego targetu: złotych, platynowych, srebrnych lub irydowych)

  • uzyskanie na powierzchni próbki do mikroanalizy rentgenowskiej cienkich filmów węglowych

  • bezpośrednie napylanie w warunkach próżniowych  warstw metalicznych na powierzchni uprzednio pokrytej filmem węglowym (metoda CMCC (ang. Carbon-Metal-Carbon Coating) R. Blaschke)

 

 
 
Multimedia
http://www.leica-microsystems.com/
uploads/tx_leicaproducts/Leica_EM_SCD_500_2010_02.flv
Galeria
 

Aktualizacja 2014-01-20

Poprawny CSS!

Wróć do spisu treści | Wróć do menu głównego