Profil badawczy - Sekcja Mikroskopii Elektronowej

Idź do spisu treści

Menu główne:

Profil badawczy

Profil badawczy

Mikroskopia elektronowa jest stosunkowo młodą dziedziną nauki z niespełna stuletnią historią.  Informacje uzyskiwane dzięki różnym typom mikroskopii elektronowej pozwalają na pełniejszą charakterystykę materii zarówno pod względem  składu, jak i właściwości oraz struktury.
Sekcja Mikroskopii Elektronowej oferuje kompleksowe badania - obejmujące zarówno preparatykę próbek, jak i szerokie spektrum analiz (w tym  między innymi topograficzne badania powierzchni, analizę pierwiastkową, analizę krystalograficzną, badania in situ,  itd.) gwarantujących pełną ich charakterystykę.  Badania te dotyczą materiałów różnego typu - począwszy od próbek biologicznych, środowiskowych i przemysłowych poprzez tworzywa sztuczne i polimery, próbki ceramiczne, proszki, substancje krystaliczne i amorficzne, izolatory, metale i ich stopy po różnego typu katalizatory i nanomateriały, elementy optoelektroniczne i światłowody. Istnieje również możliwość konsultacji i interpretacji uzyskanych wyników.  

 

 

 
 
Preparatyka
  • napylanie na próbkach stałych napylarką wysokopróżniową warstw Au, Au/Pd, W, C

  • sekcje próbek biologicznych, polimerów i materiałów miękkich za pomocą ultramikrotomu z możliwością cięcia próbek zamrożonych

  • ścienianie jonowe za pomocą jonów Ar; preparaty do analizy mikroskopowej TEM, próbki krystaliczne, amorficzne, metale, stopy, spieki

  • polerowanie i szlifowanie próbek stałych na pomocą tarcz diamentowych i z SiC

  • przycinanie próbek stałych pod ultramikroton za pomocą trymera

  • przygotowywanie zawiesin preparatów proszkowych i biologicznych z użyciem głowicy ultradźwiękowej

  • czyszczenie powierzchni próbek w myjce ultradźwiękowej

  • czyszczenie powierzchni próbek za pomocą oczyszczarki plazmowej (plasma cleaner) z użyciem mieszanki 75% argonu + 25% tlenu

  • preparatyka próbek do mikroskopii optycznej (mikroskop stereoskopowy i mikroskop z kontrastem fazowym)

  • preparatyka próbek do mikroskopii elektronowej SEM i TEM; próbki proszkowe, krystaliczne, amorficzne, biologiczne, nanostruktury, metale, stopy, spieki

  • wykonywanie przekrojów poprzecznych, wytrawianie dowolnych elementów na powierzchni próbki oraz wycinanie lamelek pod TEM za pomocą działa jonowego ze źródłem Ga

  • napylanie mikrowarstw Pt (dowolne kształty) za pomocą systemu dozowania par w mikroskopie SEM przy pomocy wiązki elektronowej albo jonowej

  • preparatyka próbek biologicznych w szeregu alkoholowym, a następnie suszenie w punkcie krytycznym

  • kompleksowa preparatyka materiałów do badań metodami skaningowej mikroskopii elektronowej (czyszczenie, napylanie, klejenie do stolika aluminiowego) oraz transmisyjnej mikroskopii elektronowej (zabezpieczanie preparatu, nanoszenie na siatkę miedzianą błonek nośnych i preparatu)

 

 
 
Klasyczna mikroskopia optyczna
  • wykonywanie zdjęć mikroskopowych za pomocą mikroskopu stereoskopowego dowolnych próbek (biologicznych, stopów metali, spieków, kompozytów) z możliwością obrazowania w odbiciu i transmisji powiększenie do 25 x

  • wykonywanie zdjęć mikroskopowych za pomocą mikroskopu w kontrastem fazowym, obrazowanie w jasnym polu, ciemnym polu i z kontrastem fazowym (próbki biologiczne lub ciekłe, proszki) powiększenie do 100 x

  • wykonywanie statystyki liczebności i rozmiarów obiektów badanych pod mikroskopem oraz możliwość obrazowania w kolorze z rozbiciem na kanały RGB

  • wykonywanie sekwencji zdjęć z zadanym krokiem i przedziałem czasowym oraz nagrywanie filmów

 

 
 
Skaningowa mikroskopia elektronowa
  • obrazowanie za pomocą wiązki elektronowej i jonowej powiększenie do 3000kx z rozdzielczością do 1.2 nm dla wiązki elektronowej i 7 nm dla wiązki jonowej

  • możliwość wykonywania zdjęć wysokorozdzielczych

  • obrazowanie w trybie wysokiej próżni (próbki przewodzące lub napylone), trybie niskiej próżni (próbki przewodzące, półprzewodzące i słabe izolatory) oraz w trybie środowiskowym (izolatory, mokre próbki biologiczne) z możliwością precyzyjnego sterowania temperaturą i wilgotnością atmosfery w pobliżu próbki

  • wykonywanie przekrojów poprzecznych za pomocą wiązki jonowej i obrazowanie in-situ wykonanego przekroju

  • bezwzorcowa analiza składu pierwiastkowego za pomocą spektroskopii rentgenowskiego promieniowania charakterystycznego EDX z możliwością podania zawartości procentowej wagowej i molowej danego pierwiastka tarczy (bor i cięższe)

  • wykonywanie badań składu pierwiastkowego w punkcie, z danego obszaru oraz mapowanie próbki pod kątem występowania danego pierwiastka

  • wykonywanie badań zawartości pierwiastka w próbce wzdłuż zadanej linii

  • obrazowanie z wykorzystaniem stolika grzewczego z możliwością osiągnięcia temperatury do 1500oC

  • nagrywanie sekwencji zdjęć i nagrywanie filmów obrazujących procesy dynamiczne

  • wykonywanie obrazowania STEM z energią wiązki do 30 keV i rozdzielczością 0.8 nm

 

 
 
Transmisyjna mikroskopia elektronowa
  • obrazowanie wysokorozdzielcze w możliwością powiększenia do 1000kx w jasnym i ciemnym polu z rozdzielczością do 80 pm

  • obrazowanie nanocząstek, nanostruktur, spieków, metali, próbek krystalicznych i amorficznych oraz przekrojów poprzecznych próbek stałych; obrazowanie struktur krystalicznych, defektów sieci, kryształów bliźniaczych i orientacji krystalograficznej

  • badania dyfrakcji wiązki elektronowej na z możliwością określania stałej sieci krystalicznej, występowania defektów krystalicznych i określenia charakteru próbki (struktura krystaliczna lub amorficzna)

  • bezwzorcowa analiza składu pierwiastkowego za pomocą spektroskopii rentgenowskiego promieniowania charakterystycznego EDX z możliwością podania zawartości procentowej wagowej i molowej danego pierwiastka tarczy

  • badania STEM z energią wiązki do 300keV i możliwością powiększenia do 230 Mx

 

[Opracowanie M. Rawski]

 
 
 

Aktualizacja 2014-01-20

Poprawny CSS!

Wróć do spisu treści | Wróć do menu głównego