Quanta 3D FEG - EDS/EBDS - Sekcja Mikroskopii Elektronowej

Idź do spisu treści

Menu główne:

Quanta 3D FEG - EDS/EBDS

Quanta 3D FEG

 

Quanta 3D FEG EDS/EBSD

Wysokorozdzielczy mikroskop skaningowy Quanta 3D FEG firmy Fei wyposażony jest w zintegrowany system EDS/EBSD firmy EDAX pozwalający na wskaźnikowanie obrazów dyfrakcyjnych oraz identyfikację faz w oparciu o informację o składzie chemicznym. Zaletą układu EDS/EBSD jest funkcja jednoczesnej akwizycji danych EBDS i danych spektralnych EDS. Pozwala to na jednoczesną rejestrację map składu chemicznego (EDS) i map orientacji krystalograficznych dla tego samego obszaru próbki.

 

 
 
Spektrometr EDS

Detektor (więcej informacji)

  • typ SDD o aktywnej powierzchni 30 mm2

  • spektralna zdolność rozdzielcza 136 eV - specyfikowana dla linii MnKα

Zbieranie sygnału

  • punktowe

  • wybrany obszar zredukowany

  • liniowo (ang. linescan)

  • rozkład pierwiastków na wybranym obszarze (mapowanie)

  • pełne widmo rentegowskie dla każdego piksela zadanego obszaru (spectral imaging)

  • zbieranie profili i map od co najmniej 30 pierwiastków równocześnie

Analiza jakościowa i ilościowa (więcej informacji)

  • detekcja pierwiastków o liczbie atomowej Z 4 (bor i pierwiastki cięższe od boru)

  • automatyczna i manualna analiza jakościowa

  • całkowicie bezwzorcowa analiza ilościowa

  • możliwość wykorzystania wzorców analitycznych

Rejestracja obrazów

  • rejestracja obrazów elektronowych z maksymalną rozdzielczością co najmniej 2048 x 1600 pikseli

  • rejestracja map promieniowania rentgenowskiego z maksymalną rozdzielczością co najmniej 2048 x 1600 pikseli

 

 
 
Spektrometr EBSD

Funkcje

  • zbieranie i analiza obrazów dyfrakcyjnych elektronów wstecznie rozproszonych

  • zbieranie map orientacji krystalograficznej

  • pełna identyfikacja faz

Kamera CCD

  • kamera CCD chłodzona termoelektrycznie w układzie Peltiera

  • minimala rozdzielczość 640 x 480 x 12 bit

  • zintegrowany z kamerą detektor elektronów rozproszonych do przodu (FSD - ang. Forward Scattered Detector)

Zbieranie sygnału

  • wybór dowolnego obszaru skanowania zaznaczanego w polu obrazu elektronowego

  • zbieranie i indeksowanie obrazów dyfrakcyjnych w trybie manualnym (punkt po punkcie)

  • zbieranie i indeksowanie obrazów dyfrakcyjnych w trybie automatycznym (z samoczynnym generowaniem zbiorów orientacji krystalograficznej w trakcie skanowania)

Możliwości

  • wskaźnikowanie wszystkich układów krystalograficznych i krystalograficznych grup punktowych

  • zbieranie map orientacji przy użyciu ortogonalnego i heksagonalnego wzoru skanowania

  • cyfrowa analiza map orientacji krystalograficznych

  • jednoczesne zbieranie i rejestracja następujących informacji (dla każdego punktu skanowania): współrzędne punktu X i Y, parametry orientacji krystalograficznej, wartość współczynnika jakości obrazu dyfrakcyjnego, transformata Hough'a jednoznacznie parametryzująca zebrany obraz dyfrakcyjny

 

 
 
 

Aktualizacja 2014-01-20

Poprawny CSS!

Wróć do spisu treści | Wróć do menu głównego