Tecnai - Sekcja Mikroskopii Elektronowej

Idź do spisu treści

Menu główne:

Tecnai

Tecnai G2 20 X-TWIN

 

Tecnai G2 20 X-TWIN

Tecnai G2 20 X-TWIN firmy Fei Company jest transmisyjnym mikroskopem elektronowym pracującym w zakresie napięć przyspieszających 20-200 kV z działem z katodą LaB6. Mikroskop w trybie pracy TEM charakteryzuje się punktową zdolnością rozdzielczą 0.25 nm i umożliwia uzyskiwanie powiększeń w zakresie od 25 razy do co najmniej 930 000 razy. Natomiast w trybie pracy STEM (z detektorem obrazowym HAADF) aparat pozwala na uzyskiwanie obrazów w powiększeniach od 100 razy do 500 000 razy ze zdolnością rozdzielczą 1.00 nm.  Mikroskop wyposażony jest w spektrometr rentgenowski EDS z detektorem typu Si(Li) o spektralnej zdolności rozdzielczej 136 eV (wyznaczonej dla linii MnKα przy 1000 zliczeń/s). Energodyspersyjny spektrometr EDS umożliwia jakościową i ilościową analizę pierwiastkową oraz uzyskiwanie map rozkładu pierwiastków i profili liniowych.
Bardzo dobra zdolność rozdzielcza w połączeniu z różnorodnymi technikami analitycznymi zarówno w trybie TEM, jak i STEM czyni z aparatu wszechstronne narzędzie badawcze.
Unikalna koncepcja budowy gwarantuje całkowicie elektroniczne sterowanie wszystkimi podzespołami aparatu - tj. parametrami pracy działa elektronowego, ustawieniami elementów optyki elektronowej, układem próżniowym, goniometrem preparatu itd. Dotyczy to również pracy wszystkich detektorów, w jakie może być wyposażony aparat.


 

 
 
Podstawowe parametry aparatu

Kolumna mikroskopu

Optyka elektronowa





Komora projekcyjna

  • działo elektronowe z zespołem Wehnelta katod LaB6

  • dwie soczewki kondensorowe

  • soczewka obiektywowa X-TWIN z eucentrycznym goniometrem preparatu o ruchach w pięciu osiach

  • soczewka dyfrakcyjna

  • soczewka pośrednia

  • dwie soczewki projektorowe

  • dwa okna wglądowe

  • dwa ekrany fluoroscencyjne (duży o średnicy 160 mm i mniejszy - do dokładnego ustawienia ostrości - wraz z binokularem o powiększeniu 12-krotnym  o średnicy 4.5 mm i polu widzenia 16 mm)

Układ próżniowy

  • pompa rotacyjna z buforem próżni

  • dyfuzyjna pompa olejowa

  • trzy pompy jonowe

  • automatycznie sterowany zawór próżniowy pomiędzy kolumną i komorą działa elektronowego

  • próżnia w komorze projekcyjnej i fotograficznej odseparowana od wysokiej próżni w kolumnie  poprzez różnicującą aperturę o średnicy równej 200 mm

  • goniometr z wbudowanym urządzeniem antykontaminacyjnym ze zbiornikiem na ciekły azot

Parametry techniczne

  • zakres napięć przyspieszających 20-200 kV

  • punktowa zdolność rozdzielcza 0.25 nm

  • liniowa zdolność rozdzielcza 0.144 nm

  • Cs soczewki obiektywu 1.3 mm

  • Cc soczewki obiektywu 1.3 mm

  • długość ogniskowej obiektywu 1.7 mm

  • zakres powiększeń TEM 22 - 930 00 razy

  • zakres powiększeń STEM 100 - 5000 000

Uchwyt preparatu

  • jednopochyłowy uchwyt z zakresem kątów pochyłu +/-30o

  • dwupochyłowy uchwyt analityczny z niskim poziomem tła umożliwiający pochyły próbki a i b wokół osi prostopadłych w zakresach dla obu kątów w zakresie +/- 30o

Moduł EDS

  • mikroskop wyposażony w moduł energodyspersyjnego spektrometru rengenowskiego (EDS) z detektorem typu Si(Li) o spektralnej zdolności rozdzielczej ≤ 136 eV (mierzonej dla linii MnKα przy 1000 zliczeń/s) umożliwiający jakościową i ilościową analizę pierwiastków oraz zbieranie map rozkładu pierwiastków i profili liniowych

 

 
 
Możliwości i zastosowania
  • obrazowanie nanocząstek, nanostruktur, spieków, metali, próbek krystalicznych i amorficznych oraz przekrojów poprzecznych próbek stałych

  • obrazowanie struktur krystalicznych, defektów sieci, kryształów bliźniaczych i orientacji krystalograficznej

  • badania dyfrakcji wiązki elektronowej na z możliwością określania stałej sieci krystalicznej, występowania defektów krystalicznych i określenia charakteru próbki (kryształ czy materiał amorficzny)

  • bezwzorcowa analiza składu pierwiastkowego za pomocą spektroskopii rentgenowskiego promieniowania charakterystycznego EDX z możliwością podania zawartości procentowej wagowej i molowej danego pierwiastka tarczy

  • badania STEM

 

 
 
Galeria
 
 

Aktualizacja 2014-01-20

Poprawny CSS!

Wróć do spisu treści | Wróć do menu głównego