Titan - Sekcja Mikroskopii Elektronowej

Idź do spisu treści

Menu główne:

Titan

Titan TM G2 60-300

 

Titan

Titan TM G2 60-300 firmy Fei Company jest obecnie najbardziej zaawansowanym mikroskopem S/TEM wyposażonym w działo z emisją polową gwarantującym pracę z wiązką o napięciu przyspieszającym w zakresie 60 - 300 kV.  Nowe rozwiązania konstrukcyjne, w tym dedykowana obudowa środowiskowa eliminują wpływ czynników zakłócających działanie mikroskopu i pozwalają na rutynową pracę w trybie wysokiej rozdzielczości (poniżej 0.1 nm).
Zastosowanie zaawansowanych technik badawczych wspomaganych specjalistycznym oprogramowaniem pozwala na uzyskanie pełnej charakterystyki (2D i 3D) badanych materiałów.
Aparat umożliwia pracę we wszystkich dostępnych trybach: TEM, STEM, EFTEM, EELS.

 

 
 
Podstawowe parametry aparatu

Obudowa

  • tłumienie akustycznych - ograniczenie wymagań akstycznych w pomieszczeniu instalacyjnym do 20 dbC

  • tłumienie zmian temperatury w zakresie 0.8oC

  • łatwa wymiana próbki poprzez boczną część mikroskopu

  • łatwy dostęp do modułu kamery w części frontowej mikroskopu

Kolumna mikroskopu

  • średnica zewnętrzna 300 mm

  • integracja akcesoriów i osprzętu

  • dedykowana do pracy z dwoma korektorami Cs i monochromatorem

  • wyposażona w szybką kamerę cyfrową typu search-and-view

  • wyposażona w mrożeniową pułapkę antykontaminacyjną z dwearem na ciekły azot i funkcją automatycznego cotygodniowego odladzania

Optyka elektronowa

  • soczewki typu ConstantPower z zoptymalizowaną pętlą magnetyczną redukującą do minimum histerezę oraz możliwość wystąpienia przesłuchu

  • działo z emisją Schottky'ego (moduł FEG z monochromatorem 300 kV (X-FEG)) o wyjątkowo wysokim poziomie jasności ≥ 7 × 107 A m2sr-1V-1 przy jednoczesnym zapewnieniu wysokich wartości prądu wiązki elektronowej

  • regulowane w zakresie 60-300 kV napięcie przyspieszające;  mikroskop zoptymalizowany do pracy przy napięciach przyspieszających: 300 kV, 200 kV i 80 kV

  • natężenie prądu wiązki ≥ 20 nA (z monochromatorem) przy napięciu 300 kV i rozmyci energetycznym ≤ 0.20 eV

  • symetryczna soczewka S-TWIN obiektywu typu ConstantPower o rozdzielczości (S)TEM ≤ 0.136 nm (bez korektora) i ≤ 0.08 nm (z korektorem)

Układ illuminacji

  • trójsoczewkowy system kondensorów

  • układ iluminacji wyposażony w tryby: wiązki precyzyjnej, wiązki równoległej oraz niskich powiększeń

Układ próżniowy

  • bezolejowy system próżniowy z pompowaniem różnicowym w kolumnie

Akcesoria

  • jednopochyłowy uchwyt preparatu do CompuStage; próbka montowana w uchwycie tego typu może być pochylana wokół osi głównej holdera; ruchy preparatu są sterowane w pełni przez kontroler goniometru

  • dwupochyłowy uchwyt preparatu do Compustage z niskim poziomem tła; próbka montowana w uchwycie takiego typu może być pochylana wokół dwóch prostopadłych osi (oś X w zakresie +/- 40o i osi Y w zakresie +/- 30o; wartość kątowa pochyłu odczytywana i wyświetlana z dokładnością do 0.1o; uchwyt dostosowany do próbek o średnicy 3.05 mm i maksymalnej grubości 0.34 mm

  • jednopochyłowy, szerokoplowy uchwyt preparatu do tomografii TEM; przeznaczony do eksperymentów tomografii TEM w temperaturze pokojowej o bardzo dużym polu obserwacji; obszar preparatu widoczny w całym zakresie kątowym pochyłów 140o (tzn. od -70o do +70o) wynosi około 2 mm wzdłuż osi pochyłu i 1.5 mm w kierunku prostopadłym do osi pochyłu

  • specjalistyczny jednopochyłowy uchwyt preparatu do transferu zamrożonych próbek (do tempeartur poniżej -170oC)

  • specjalistyczny uchwyt preparatu z możliwością podgrzewania próbek do temperatury 1200oC

  • specjalistyczny dwupochyłowy uchwyt preparatu do transferu próbek w warunkach próżni

Detektor EDS

  • zmotoryzowany wsuwany detektor EDS typu Si(Li)

  • detekcja pierwiastków cięższych od boru (Z≤ 4)

  • aktywna powierzchnia detektora 30 mm2

  • rozdzielczość energetyczna ≤ 136 eV mierzona dla linii Mn Kα

  • kąt bryłowy zbierania wiązki ≥ 0.13 srad

  • możliwość pracy w całym zakresie napięć przyspieszających

Spektrometr EELS
tryb z filtracją energii





tryb pracy spektrometru


  • tryb obrazowy: pole widzenia > 15× 15 μ

  • tryb dyfrakcyjny: zakres kątowy > 120 mrad

  • błąd izochromatyczny < 1.5 eV

  • całkowita korekcja aberracji trzeciego rzędu i częściowa korekcja aberracji czwartego rzędu


  • rozdzielczość energetyczna  ≤ 0.20 eV układu mikroskop-spektrometr przy napięciu przyspieszającym 300 kV mierzona jako szerokość połówkowa wiązki elektronowej w czasie równym 1 s

  • rozdzielczość energetyczna  ≤ 0.15 eV przy napięciu przyspieszającym 200 kV mierzona jako szerokość połówkowa wiązki elektronowej w czasie równym 1 s

Mikroskopia Lorenzowska

  • rozdzielczość ≤ 3 nm przy napięciu przyspieszającym 300 kV (pole magnetyczne w obszarze próbki mniejsze niż 5 mT)

Tryb STEM

  • system skanowania STEM wyposażony w detektory pola jasnego, pola ciemnego  HAADF; detektor HAAD (ang. High-Angle Annular Dark Field) pozwala na uzyskanie obrazów STEM w ciemnym polu z rozdzielczością atomową;

Oprogramowanie

  • oprogramowanie komputerowe do rekonstrukcji amplitudy i fazy funkcji falowej na podstawie serii rozogniskowanych obrazów (focal series)

  • oprogramowanie komputerowe do mapowania ilościowego rozkładu pierwiastków metodą EDX

  • oprogramowanie komputerowe do mapowania ilościowego rozkładu pierwiastków metodą EELS

  • oprogramowanie komputerowe umożliwiające pisanie skryptów do automatycznej pracy mikroskopu (TEM Scripting)

  • oprogramowanie do pracy w trybie niskiej dawki wiązki elektronowej

  • oprogramowanie komputerowe do zdalnej pracy z systemem TEM

  • oprogramowanie komputerowe do analizy wyników pracy spektrometru/filtru energii na zewnętrznym komputerze

  • oprogramowanie komputerowe do analizy wyników (w tym technik EDS, EELS, TEM, STEM) na zewnętrznym komputerze

  • oprogramowanie do automatycznej kalibracji powiększeń

 

 
 
Możliwości i zastosowania

Elektronowy mikroskop transmisyjny Tian umożliwia kompleksową analizę próbek. Oprócz standardowych obrazów TEM możliwe jest również uzyskanie informacji o składzie próbki (technika EDS, EELS).

  • przykładowe zastosowanie technik transmisyjnej mikroskopii elektronowej [link]

 

 
 
Galeria
 
 

Aktualizacja 2014-01-20

Poprawny CSS!

Wróć do spisu treści | Wróć do menu głównego