Trymer - Sekcja Mikroskopii Elektronowej

Idź do spisu treści

Menu główne:

Trymer

Trymer EM TXP Leica Microsystems
Trymer EM TXP Leica Microsystems

Trymer  EM TXP firmy Leica Microsystems jest urządzeniem do wstępnej preparatyki próbek do badań zarówno metodami mikroskopii optycznej, jak również mikroskopii elektronowej. Aparat wyposażony jest w zestaw narzędzi umożliwiających kompleksowe przygotowanie badanego materiału do dalszych czynności preparatorskich poprzez:
- piłowanie,
- frezowanie,
- szlifowanie,
- polerowanie.
Dzięki kompatybilności z innymi narzędziami do preparatyki (ścieniacz jonowy, ultramikrotron) materiały poddane wstępnej obróbce na aparacie Leica EM TXP mogą być dalej preparowane w kolejnych krokach zgodnych z procedurami przygotowywania próbek mikroskopowych. Zintegrowany z układem mikroskop stereoskopowy z ruchomym adapterem oraz siatką pomiarową w okularze pozwala na kontrolę procesu preparacji.

 

 

 

 
 
Podstawowe parametry aparatu

Operacja

Parametry/właściwości

Trymowanie
Frezowanie

  • układ do szybkiego cięcia preparatów przy użyciu frezów diamentowych i/lub węglika wolframu z regulacją osiową ruchu (X i Y)

  • regulowana prędkość obrotowa frezu 300-20000 obr/min

  • regulowany skok frezu

  • regulacja położenia próbki - możliwość wykonania nacięć pod różnymi kątami i osiami

  • możliwość wycinania krążków o średnicy 3 mm kompatybilnych ze ścieniaczem jonowym

Szlifowanie
Polerowanie

  • funkcja automatycznego polerowania ze wskaźnikiem nacisku

  • folie szlifierskie diamentowe i SiC o różnej ziarnistości

 

 
 
Możliwości i zastosowania

Wstępna preparatyka próbek do badań metodami mikroskopii elektronowej

  • cięcie, sekcjonowanie preparatów różnego typu

  • wykonywanie nacięć, frezów

  • szlifowanie

  • polerowanie powierzchni

 

 
 
Multimedia
http://www.leica-microsystems.com/uploads/tx_leicaproducts/Leica_EM_TXP_2011_05.flv
 
Galeria
 

Aktualizacja 2014-01-20

Poprawny CSS!

Wróć do spisu treści | Wróć do menu głównego